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簡要描述:低溫黑體和大面源黑體產品尤其是黑體源大量的應用于美國系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領域。
產品型號:
廠商性質:代理商
更新時間:2025-11-19
訪 問 量:3981
產品資料:產品分類
詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年,經過逾20年的發(fā)展,已經成為國際上電光測試裝備的*,所研發(fā)產品尤其是黑體源大量的應用于美國紅外系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領域。其產品性能主要如下:
腔式黑體
低溫黑體
大面源黑體



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